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谷物内外部品质自动分析系统

CA—XP粮油食品品质近红外分析系统

CA—XP粮油食品品质近红外分析系统集计算机技术、近红外光谱技术和现代化学计量学技术于一体,是新一代先进、快速、无损检测仪器。广泛应用于不同条件下粮油食品的品质如水分、蛋白、脂肪、淀粉、糖等有机成分含量的定量测量与分析。同时该产品还可以用于乳品、食品、烟酒行业生产与保鲜过程中各种成分含量的快速检测。是粮食储藏、粮油加工、乳业、农副产品及食品加工、农业质量监督检测等部门提高品质检测分析水平、控制产品质量与成本、减少资源损失的先进、实用的技术手段。

工作原理:

近红外光谱仪采集的主要是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迁时产生的对光的吸收信息,记录的主要是含氢基团X-H(X=C、N、O)振动的倍频和合频吸收。不同基团(如甲基、亚甲基,苯环等)或同一基团在不同化学环境中的吸收波长与强度都有明显差别,NIR光谱具有丰富的结构和组成信息,非常适合用于碳氢有机物质的组成与含量检测。

性能指标:

  • 光谱范围 700—1100nm

  • 分辨率 1—20nm可选

  • 光学重复性 ±0.5nm

  • 测量时间 1—3min可调

  • 环境温度 5—40℃

  • 水分测量范围 8—35%

  • 粗蛋白测量范围 1—45%

  • 硬度测量范围 10—90% 


GE-XP谷物品质图像分析系统

GE-XP谷物品质图像分析系统应用图像自动分析系统测定谷物杂质和不完善粒的检测设备。适用于各类谷物的检测。该系统集计算机技术与图像处理技术于一体,通过CCD摄像机、进料机构、驱动机构和出料机构以及图像自动采集系统,经图像处理和BP神经网络的分类算法,达到对于标准麦、破损麦和异种粮霉变粮的自动识别。

性能指标:

  • 稻谷:未熟粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%

  • 小麦:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%

  • 玉米:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒、热损伤粒。识别准确率≥95%

  • 大米:垩白粒率、粒型、黄粒米、垩白度。识别准确率≥95%


主要性能指标:

1. 稻谷:未熟粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%

2. 小麦:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95%

3. 玉米:破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒、热损伤粒。识别准确率≥95%

4. 大米:垩白粒率、粒型、黄粒米、垩白度。识别准确率≥95%


LP-ZRS-2型粮食品质快速检测一体机

LP-ZRS-2型粮食品质快速检测一体机是国家科技部"十一五"支撑计划的研究成果。该系统集计算机技术、图像处理技术和自动控制技术一体,是新一代先进、快速、可靠的检测设备。该设备能够检测小麦、玉米的水分、容重及杂质,检测精度高,重复性好,完全能够满足国内市场的需求,大大降低了企业的应用成本,可广泛应用于小麦、玉米等主要粮食作物的品质检测中,具有广阔的应用前景和经济效益。

性能指标:

  • 水分检测精度15%以下≤±0.5%, 15%-20%≤±1%,20%以上≤±2%;

  • 杂质检测精度≤0.1%;

  • 容重检测精度≤±3g/L;

  • 检测时间≤1分钟。

 


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